B&k Precision Corporation

カテゴリ: Electrical and Electronic Properties Measuring and Testing Instruments United States
Cage Code: 08098
タイプコード: A
ページ: 1 of 1
アイテム
国内在庫番号
アイテム説明
部品番号:
1077 テレビテストセット
NSN:
6625-00-137-6827
テレビテストセット
部品番号:
707 電子管テストセット
NSN:
6625-00-145-8685
電子管テストセット
部品番号:
1076 テレビテストセット
NSN:
6625-00-242-8584
テレビテストセット
部品番号:
856 交換用メーター
NSN:
6625-00-325-8510
交換用メーター
部品番号:
810C コンデンサテストセット
NSN:
6625-00-403-6524
コンデンサテストセット
部品番号:
1077B 信号発生器
NSN:
6625-00-421-8114
信号発生器
部品番号:
465 ブラウン管テストセット
NSN:
6625-00-465-6847
ブラウン管テストセット
部品番号:
415 パルススイープ発電機
NSN:
6625-00-495-3838
パルススイープ発電機
部品番号:
747B 電子管テストセット
NSN:
6625-00-506-1261
電子管テストセット
部品番号:
3308 スペクトラムアナライザー
NSN:
6625-00-574-7968
スペクトラムアナライザー
部品番号:
120 メーター
NSN:
6625-00-918-5930
メーター
部品番号:
490B ブラウン管テストセット
NSN:
6625-01-038-1877
ブラウン管テストセット
部品番号:
FP-6 テスト・リード
NSN:
6625-01-038-2661
テスト・リード
部品番号:
960 半導体デバイステストセット
NSN:
6625-01-058-9564
半導体デバイステストセット
部品番号:
MODEL DP-101 テスト・リード
NSN:
6625-01-072-5085
テスト・リード
部品番号:
1474 オシロスコープ
NSN:
6625-01-074-9385
オシロスコープ
部品番号:
1248 コロテストジェネレータ
NSN:
6625-01-079-3663
コロテストジェネレータ
部品番号:
520C トランジスタテスター
NSN:
6625-01-080-3471
トランジスタテスター
部品番号:
320-004-9-001 メーター
NSN:
6625-01-083-7652
メーター
部品番号:
530 半導体テスター
NSN:
6625-01-087-5441
半導体テスター
部品番号:
00712603000324 静電容量計
NSN:
6625-01-087-5513
静電容量計
部品番号:
747 DYNA-JET チューブテスター
NSN:
6625-01-088-1784
チューブテスター
部品番号:
1850 周波数カウンタ
NSN:
6625-01-128-2125
周波数カウンタ
部品番号:
1250 テレブバージェネレータ
NSN:
6625-01-135-2221
テレブバージェネレータ
部品番号:
501A 半導体デバイステストセット
NSN:
6625-01-143-0226
半導体デバイステストセット
部品番号:
3010 パルススイープ発電機
NSN:
6625-01-225-3734
パルススイープ発電機
部品番号:
510A 半導体デバイステストセット
NSN:
6625-01-225-7434
半導体デバイステストセット
部品番号:
830 コンデンサテストセット
NSN:
6625-01-227-8878
コンデンサテストセット
部品番号:
430 電気周波数計
NSN:
6625-01-232-3075
電気周波数計
部品番号:
830A キャパシタンスブリッジ
NSN:
6625-01-250-3874
キャパシタンスブリッジ
部品番号:
875B キャパシタンス-インダクタンス-reブリッジ
NSN:
6625-01-250-4541
キャパシタンス-インダクタンス-reブリッジ
部品番号:
DP-51 テストプローブ
NSN:
6625-01-285-6726
テストプローブ
部品番号:
560 半導体デバイステストセット
NSN:
6625-01-294-7061
半導体デバイステストセット
部品番号:
PR-28A テストプローブリードアセンブリ
NSN:
6625-01-320-5226
テストプローブリードアセンブリ
部品番号:
PL5010 半導体デバイステストセット
NSN:
6625-01-362-3839
半導体デバイステストセット

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