Fairchild Semiconductor Corp

カテゴリ: Electrical and Electronic Properties Measuring and Testing Instruments United States
Cage Code: 51089
タイプコード: A
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アイテム
国内在庫番号
アイテム説明
部品番号:
215 電子回路プラグテストセット
NSN:
6625-00-321-5193
電子回路プラグテストセット
部品番号:
120 半導体デバイステストセット
NSN:
6625-00-367-9323
半導体デバイステストセット
部品番号:
020113 プリント回路アセンブリバッファ
NSN:
6625-01-013-7598
プリント回路アセンブリバッファ
部品番号:
MODEL 3000 障害分離テスター
NSN:
6625-01-034-3772
障害分離テスター
部品番号:
MDL2042 ショートストップ
NSN:
6625-01-052-4842
ショートストップ
部品番号:
2031 テストアダプタ
NSN:
6625-01-055-0111
テストアダプタ
部品番号:
AFIT3000A 半導体デバイステストセット
NSN:
6625-01-076-7916
半導体デバイステストセット
部品番号:
1500 電子回路プラグテストセット
NSN:
6625-01-128-8422
電子回路プラグテストセット
部品番号:
10-000142 テストプローブ
NSN:
6625-01-258-1460
テストプローブ

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